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       X射线荧光分析仪X-Strata920是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
 
【详细说明】
X射线荧光分析仪X-Strata920 是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。
X-Strata920 在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。X-Strata920 为这些行业提供了：
•     以更有效的过程控制来提高生产力
•     有助电镀过程中的生产成本最小化、产量最大化
•     快速无损地分析珠宝及其他合金
•     快速分析多达4层镀层
•     经行业认证的技术和可靠性，确保每年都带来收益
•     操作简单，只需要简单的培训
卓越的性能
•     快速、精确的分析：大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供最佳灵敏度
•     简单的元素区分：通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱
•     性能优化，可分析的元素范围大：X-Strata920 预置800多种容易选择的应用参数/方法
•     卓越的长期稳定性：
o     自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，确保稳定的测试结果
o     例行进行简单快 速的波谱校 准，可自 动检查仪器性能（例如灵敏性）并进行必要的修正
•     坚固耐用的设计
o     可在实验室或生产线上操作
o     坚固的工业设计
电子行业
电子、电气原件
有效控制生产过程，提高生产力
•     确保元件可靠性
o     同时测量焊料合金成份和镀层厚度
•     优化质量控制，确保产品生命期
例如：
o     分析导电性镀层金和钯的厚度
o     测量电脑硬盘上的NiP层厚度
五金电镀行业
电镀处理的成本最小化，产量最大化
•     快速简单的分析
o     同时进行单层或多层镀层厚度测量及成份分析
o     最多可分析4层镀层
o     镀液成份分析
金属合金行业
金属合金成份分析和牌号认定
珠宝及其他合金的快速无损分析
•     贵金属合金分析
•     黄金纯度分析
•     材料鉴定
 三种配置选项
固定样品台
 
•     样品台位置固定
•     经济、实用
•     平面样品台设计，适合高
度不超过1.3"（33mm）的样
品分析  加深样品台
 
•     高度每英寸（25.4mm）可
调，架构式样品舱可容纳
最大高度6.3"（160mm）的
样品      程控样品台
 
•     用于自动化测量
•     方便根据测试位置放置样品，
并精准定位测量点
•     样品台尺寸：22"（D） x 24"（w），即560mm （深） x 610mm （宽）
•     程控台移动距离：7" x 7"，
即178mm x 178mm
 
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